ADCL—Ⅳ型电子技术综合实验箱的基本操作 基本逻辑门及其应用 一、实验目的 1.掌握验证逻辑门电路功能的方法。 2.学习基本门电路的应用。 3.掌握逻辑门多余输入端的处理方法。 二、实验原理    ⑴多余输入端与有用的输入端并联使用;    ⑵多余输入端接高电平或通过串接限流电阻  接高电平。 二、实验原理 二、实验原理 ⑴多余输入端与有用的输入端并联使用; ⑵多余输入端接低电平或接地。 二、实验原理 1. 电子技术综合实验仪； 2.集成电路：74LS00，74LS51，74LS02；   四、实验内容与步骤     1.基本内容  ⑴测试74LS00门的逻辑功能    选中一个逻辑门，将输入端接开关，输出 端接发光二极管。 四、实验内容与步骤 ⑵用与非门实现逻辑函数    ①设计出用74LS00实现表1逻辑功能的逻辑图。    ②在实验仪上验证设计出的逻辑功能。    将输入端接逻辑开关，输出端接发光二极管，通过发光二极管的状态观察输出状态。  四、实验内容与步骤 ⑷ 用与或非门实现逻辑函数      ①画出用74LS51实现表1逻辑功能的逻辑图。    ②在实验仪上验证逻辑功能。               五、实验报告要求 1. 实验目的。 2. 设计过程。 3. 实验仪器与器材。 4. 实验内容与步骤。 5. 对实验结果进行分析。 6. 思考题。 7. 实验体会。 * 电源开关 逻辑笔 单次脉冲 数据逻辑开关 电源输出 电平指示 芯片插座（16管脚） 1位独立的数码显示 4路共阴数码动态显示 4路共阳或共阴数码管 （带译码器） 芯片插座（14管脚） 芯片插座（8管脚） 芯片插座（20管脚） 脉冲输出     1.与门、与非门电路多余输入端的处理方法 图1  与门、与非门多余输入端的处理方法     2.或门、或非门的多余输入端的处理 方法  图2 或门、或非门的多余输入端的处理方法 三、实验仪器、设备与器件 表1 数据表 0 0 0 1 0 0 1 1 0    0     0 0    0     1 0    1     0 0    1     1 1    0     0 1    0     1 1    1     0 1    1     1 F A    B    C A 0 1 00 01 11 10 0 0 0 0 1 0 1 1 BC 利用卡若图化简 F=AB+BC= AB +BC= AB BC & & & 1 2 3 4 5 6 9 10 8 F A C B ⑶用或非门实现逻辑函数     ①设计出用74LS02实现表1逻辑功能的逻辑图。     ②在实验仪上验证逻辑功能。             将输入端接逻辑开关，输出端接发光二极管，通过发光二极管的状态来观察输出状态，将实验结果填入表2中。          0    0     0 0    0     1 0    1     0 0    1     1 1    0     0 1    0     1 1    1     0 1    1     1 F A    B    C 表2 实验结果数据表         0    0     0 0    0     1 0    1     0 0    1     1 1    0     0 1    0     1 1    1     0 1    1     1 F A    B    C 表3 实验结果数据表 六、思考题 1. 逻辑门多余输入端应如何处理？ 2. 逻辑门的输出端应注意哪些问题？ 3. 能否用CMOS门驱动TTL门？为什么？ * 
1基本逻辑门及其应用.ppt